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日本SANKO山高膜厚計的測定事項

日期：2025-05-10 07:47

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摘要：

日本SANKO山高膜厚計又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

測定準備

（1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。

（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。

測定方法

（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。

（2）調整：確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。

（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與

測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都

要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩定地進行測定。

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