產(chǎn)品名稱：功能齊全 重慶內(nèi)藤銷售 FE-300V 薄膜厚度監(jiān)視器 OTSUKA大塚電子

（詳情請(qǐng)咨詢TEL:18375760285 QQ;1280713150 白先生）

• 對(duì)應(yīng)于從薄膜到厚膜的寬膜厚度
• 使用反射光譜的厚度分析
• 結(jié)構(gòu)緊湊·成本低，但非接觸式，非破壞性和高度**的測(cè)量
• 簡(jiǎn)單的條件設(shè)置和測(cè)量操作！易于測(cè)量任何人的膜厚度
• 通過非線性*小二乘法，優(yōu)化方法，PV方法，F(xiàn)FT分析方法等可以進(jìn)行各種各樣的膜厚度測(cè)量。
• 通過非線性*小二乘法的膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光數(shù)計(jì)數(shù)）

• **反射率測(cè)量
• 薄膜厚度分析分析（10層）
• 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光米數(shù)）

• 功能性膜，塑料
  的透明導(dǎo)電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏振膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP ，PC，PE，PVA， 膠，粘合劑，保護(hù)膜，硬外套，指紋等
• 半導(dǎo)體
  化合物半導(dǎo)體，Si，氧化膜，氮化膜，Resist，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍(lán)寶石等
• 表面處理的
  DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
• 光學(xué)材料
  過濾器，AR涂層等
• FPD
  LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)薄膜，密封劑）等
• 其他
  硬盤，磁帶，建筑材料等

使用大冢電子，光學(xué)干涉測(cè)量和我們自己的高精度分光光度計(jì)可實(shí)現(xiàn)非接觸，無損，高速和高精度的薄膜厚度測(cè)量。光學(xué)干涉測(cè)量法是通過使用由使用如圖1所示的分光光度計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)獲得的反射率來獲得光學(xué)膜厚度的方法。例如，如圖1所示，在金屬基板上涂布膜的情況下，從目標(biāo)試樣的上方入射的光被膜（R1）的表面反射。而且，透過膜的光在基板（金屬）或膜界面（R2）上反射。測(cè)量此時(shí)由于光程差引起的相移引起的光學(xué)干涉現(xiàn)象，并根據(jù)所獲得的反射光譜和折射率計(jì)算膜厚度的方法稱為光學(xué)干涉方法。有四種分析方法：峰谷方法，頻率分析方法，非線性*小二乘法和優(yōu)化方法。

* 1請(qǐng)與我們聯(lián)系以獲取詳細(xì)信息
* 2 
超大規(guī)模集成電路薄膜厚度保證（100納米二氧化硅/硅）* 3 所述的測(cè)量保證值范圍對(duì)于VLSI薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)（100納米二氧化硅/硅）重復(fù)測(cè)量的不確定性（包含因子2.1）