主營產品:

光學儀器、光學材料、實驗儀器、手動工具、焊接工具、焊接材料、儀器儀表、靜電設備、靜電輔料、工業器材、氣動元件、電工電氣、測量工具、計量設備、氣動工具、電動工具、化工設備、化工輔料、點膠設備、小型設備、儲存設備、物流設備、工業安防、**防護、包裝材料、切削工具、切削材料、辦公設備、辦公文具、工裝夾具、測試治具、機械加工。設備等。

搜索

產品詳情

查看大圖

產品名稱：日本ACCRETECH東京精密3D坐標測量機PRISMO超重慶內藤區域代理
產品型號：PRISMO 超
產品廠商：日本ACCRETECH東京精密
產品價格：0
折扣價格：0
產品文檔：

你添加了1件商品查看購物車

簡單介紹：

具有世界*極水平的上等PRISMO模型

詳情介紹：

PRISMO超

具有世界*高水平的上等PRISMO模型

“ PRISMO超強，不折不扣的精密技術”應運而生，可滿足對極高精度測量的需求。不僅精度高，而且高速，剛性，可操作性和經濟性都得到了很好的平衡，并得到了較高水平的解決。3D坐標測量非常適合高精度零件的研發和參考量規的校準檢查。

特色功能

達到世界*高水平的MPE E = 0.5 + L / 500μm（PRISMO ultra 9/13/7 VAST金）
使用VAST探頭進行點和掃描測量

高精度有源掃描探頭

掃描探頭由平行板簧，使用差動變壓器的位移測量系統和獨立的夾緊機構組成，在精度，再現性和功能方面具有突出的特點。通過多種測量采集方法，它幾乎無限地適用于3D測量中的測量項目。

介紹*新的計算機精度校正技術

CMM精度的一致概念是錯誤消除和糾正。諸如引導線，比例尺和正交性之類的系統錯誤要經過計算機準確的CAA（計算機輔助精度）檢查。那時，對探測球的中心點進行校正，并將導板的筆直度誤差細分為64個網格，并通過計算機執行精度校正（FineCAA）。
此外，靜態撓度校正（S-CAA）可以校正由于施加到每個部件（例如測量儀器主體和測針）上的測量力而引起的位移誤差，而動態撓度校正（D-CAA）可以校正由于在測量運動期間施加的加速度而引起的位移誤差。）也實時進行。這樣可實現極高的測量精度。