AxoStep?

穆勒矩陣成像旋光儀

AxoStep 同時測量圖像中每個位置的所有可能的偏振特性。根據使用的顯微鏡物鏡，可以測試小至幾微米的特征。

概述

AxoStep 是業界先進的 Mueller Matrix 成像顯微鏡。一種突破性的偏振測試儀器，基于 AxoScan 的行業優良原理，能夠在短短 14 秒內測量圖像中每個像素的所有可能的偏振特性（完整的穆勒矩陣）。

與典型的延遲或雙折射成像系統不同，AxoStep 同時測量所有透射率、偏振器、延遲器和去偏振特性。圓偏振器、橢圓延遲器和光學旋轉不會導致系統進行不正確的測量。

AxoStep Mueller Matrix 成像顯微鏡系統可以執行偏振計量，橫向分辨率小于 1 um，甚至比先進的微點非成像系統小 50 倍。這種級別的分辨率使我們能夠測量以前無法表征的樣品的光學特性，例如單個 UHD 多域 LCD 像素子域中的預傾斜。

Axostep 系統使用各種光學附件，允許用戶實時查看樣品的顯微圖像，當與 Axometrics 的分析屬性結合使用時，測量 LCD 單元間隙和預傾斜等屬性以及薄膜厚度。與 AxoScan 一樣，AxoStep 還包括各種可用的桌面、大型和生產測量夾具。

由于 AxoStep 可以實時查看樣本，我們可以使用相應模式識別軟件自動查找和測量樣本上的特定特征。

應用

使用 AxoStep 成像系統進一步擴展了 Mueller 矩陣提供的獨特測量功能。成像旋光儀的使用開辟了許多使用非成像系統無法實現的附加應用。例如

像素間 LCD 測量

AxoStep 打開了測量 LCD 面板中單個像素內部光學特性的大門。沒有其他測量系統可以與這種獨特的能力相匹敵。這種能力包括：

• LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
• 單個像素內的變化
• 多域像素設計的預傾斜測量 
• 激光修復造成的損壞
• LCD 面板邊緣、角落和“缺口”附近像素的單元間隙變化

圖案陣列

• 應用于 CCD / CMOS 陣列的圖案化偏振器和延遲器
• 幾何相位透鏡和渦旋延遲器

玻璃和塑料微光學

AxoStep 可用于**表征小型光學器件的表面特性和內部應力。這在測試手機相機和增強現實投影儀中使用的鏡頭時特別有用。

3D顯示組件 

AxoStep 系統特別適合對 3D 顯示器中使用的光學元件進行詳細測量，包括：

• 自動立體透鏡陣列
• 圖案化波片和偏光片
• 薄膜圖案化延遲器 (FPR) 和 FPR 偏振器

定量偏光顯微鏡

偏光顯微鏡被廣泛用于幫助可視化顯微樣品中的透明物體。然而，在某些情況下，需要進行定量測量才能準確確定樣品的關鍵參數。AxoStep 同時高精度測量樣品的所有偏振特性：

• 延遲（雙折射）和方向
• 光學活性（圓形延遲）
• 線性二色性（線性衰減）
• 圓二色性（圓二色性）
• 去極化

規格