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概述
AxoStep 是業界首款穆勒矩陣成像顯微鏡。這是一款突破性的偏振測試儀器,基于 AxoScan 行業**的原理,能夠在短短 14 秒內測量圖像中每個像素的所有可能的偏振特性(完整的穆勒矩陣)
與典型的延遲或雙折射成像系統不同,AxoStep 同時測量所有透射率、偏振器、延遲器和去偏振特性。圓偏振器、橢圓延遲器和旋光度不會導致系統進行不正確的測量。
AxoStep Mueller Matrix 成像顯微鏡系統可以執行橫向分辨率小于 1 um 的偏振計量,這比*先進的微點非成像系統小 50 倍。單個 UHD 多域 LCD 像素的子域。
Axostep 系統使用各種光學附件,允許用戶實時查看樣品的顯微圖像,當與 Axometrics 的**分析屬性結合使用時,測量 LCD 單元間隙和預傾斜等屬性以及薄膜厚度。和 AxoScan 一樣,AxoStep 還包括各種可用的桌面、大型和生產測量夾具。
因為 AxoStep 可以實時查看樣品,我們可以使用**模式識別軟件自動查找和測量特定的樣本上的特征。
應用
使用 AxoStep 成像系統進一步擴展了 Mueller 矩陣提供的獨特測量功能。使用成像旋光儀開辟了許多使用非成像系統無法實現的其他應用。
像素間 LCD 測量
AxoStep 打開了測量 LCD 面板中單個像素內部光學特性的大門。沒有其他測量系統可以比得上這種獨特的能力。這種能力包括:
- LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
- 單個像素內的變化
- 多域像素設計的預傾斜測量
- 激光修復造成的損壞
- LCD 面板邊緣、角落和“缺口”附近像素的單元間隙變化
圖案陣列
- 應用于 CCD / CMOS 陣列的圖案化偏振器和延遲器
- 幾何相位透鏡和渦旋延遲器
玻璃和塑料微光學
AxoStep 可用于**表征小型光學器件的表面特性和內部應力。這在測試手機相機和增強現實投影儀中使用的鏡頭時特別有用。
3D顯示組件
AxoStep 系統特別適合對 3D 顯示器中使用的光學元件進行詳細測量,包括:
- 自動立體透鏡陣列
- 圖案化波片和偏光片
- 薄膜圖案化延遲器 (FPR) 和 FPR 偏振器
定量偏光顯微鏡
偏光顯微鏡被廣泛用于幫助可視化顯微樣品中的透明物體。然而,在某些情況下,需要進行定量測量才能準確確定樣品的關鍵參數。AxoStep 同時測量樣品的所有偏振特性,以實現高精度:
- 延遲(雙折射)和方向
- 光學活性(圓形延遲)
- 線性二色性
- 圓二色性
- 去極化
規格
MMIP-VIS | |
---|---|
設計 | 雙旋轉緩速器 |
探測器類型 | CMOS 相機(10 位) |
*大分辨率 | 1320x1024 |
傳感器尺寸 | 7.87 毫米(對角線) |
測量時間 | 14秒 |
波長范圍 | 450nm-650nm |
可用物鏡 | 2X、5X、10X、20X、50X、100X |