AxoScan?

穆勒矩陣旋光儀

AxoScan 在 30 毫秒內同時測量樣品所有可能的偏振特性。范圍廣泛的特定應用分析軟件為幾乎所有與偏振相關的設備或行業提供易于理解的數據。

概述

AxoScan 是行業**的樣品偏振特性測量系統。憑借其****的速度、精度和準確度，AxoScan 在全球范圍內被偏光膜、延遲膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的許多*終用戶所采用。

AxoScan 測量 所有可能的偏振特性 （完整的 Mueller 矩陣）并在僅30 毫秒內報告樣品的所有關鍵偏振參數（偏振器特性、延遲器特性、去偏振特性）  。

測量是在一個位置進行的，通常是在直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束中。如果需要測量非常小的特征，請考慮使用 AxoStep 成像旋光儀。

“穆勒矩陣”的優勢

與僅測量特定偏振參數子集的“部分”或“不完整”旋光儀不同，AxoScan 和 AxoStep 均測量完整的 Mueller 矩陣。Mueller 矩陣的 16 個元素包含樣品所有可能的偏振特性。這在您的真實樣本不符合測量系統做出的假設的情況下非常重要。
例如，如果任何層之間沒有完全對齊，則測量堆疊的延遲器層將產生“橢圓延遲”。設計用于測量“線性延遲”或“雙折射”的系統將無法看到這種未對準的影響，并會給出錯誤的結果。但是穆勒矩陣是騙不了的，
我們易于使用的軟件會自動將穆勒矩陣轉換為有意義的透射率、偏振器特性（衰減和偏振）、延遲和去偏振參數。Axometrics 還為眾多行業提供范圍廣泛的專用軟件。

OPMF - 平面外測量夾具

OPMF-1 在世界各地的研發和 QC 實驗室中使用，是 AxoScan *常用的安裝夾具。OPMF 自動傾斜和旋轉樣品以測量作為視場函數的偏振特性。在多個入射角下進行測量對于許多應用來說至關重要：

• 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
• 行業標準面外延遲參數（R0、Rth 和 Beta）
• 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
• 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預傾斜測量
• 垂直排列 LC 的池間隙測量

OPMF-1傾角（極角）范圍為-55°至+55°，旋轉角（方位角）連續0°至360°

OPMF-2 將*大傾斜角擴展到 75°。這種擴展的傾斜范圍通常在視野研究的研發應用中很有用。

XY200 - 電動XY掃描臺

XY200 夾具自動執行*大 200 平方毫米樣品的 XY 圖，并包括用于分析測量偏振特性圖的軟件。隨附的 XYViewer 軟件具有以下功能：

• 統計分析樣本的分布
• 截面圖
• 屏蔽超出范圍的像素
• 數據導出到電子表格
• 用于質量控制的通過/不通過應用程序的分箱顏色表的用戶設置

VRTF - 傳輸和反射夾具

VRTF-1 可以在傳輸和反射模式之間自動重新配置，從而實現非常廣泛的應用。反射的傾角可以從 10° 到 90°，透射的傾角可以從 -55° 到 55°。MSRS 選項提供樣品的完整 360° 旋轉，可選的 XY50 載物臺允許區域的 XY 圖*大為 50 mm x 50 mm。

VRTF 是我們*靈活的夾具，可廣泛用于偏光測量和橢圓偏光測量：

• 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
• 行業標準面外延遲參數（R0、Rth 和 Beta）
• 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
• 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預傾斜測量
• 垂直排列 LC 的池間隙測量
• XY 地圖和橫截面線掃描高達 50 毫米的透射或反射
• 折射率測量
• 薄膜厚度測量
• LCOS 和反射式顯示器測試

FSVM - 獨立式垂直安裝

FSVM 是一種簡單的安裝夾具，用于測量垂直入射傳輸中的樣品。該夾具包括一個可調節的參考邊緣，用于重復設置樣品方向。

OBHM  - 光學工作臺水平安裝座

光學工作臺水平安裝架適用于希望將 AxoScan 安裝在光學工作臺上的研究人員。這為許多研發應用提供了*大的靈活性。

應用

由于 Mueller 矩陣包含樣品所有可能的偏振特性，因此 AxoScan 應用程序太多無法一一列舉。下面的列表重點介紹了一些*常見的應用程序，但請務必訪問我們的應用程序頁面以獲取更多信息。
如果您沒有看到您的應用列出，請隨時聯系我們討論您的測量要求。如果測量涉及極化，我們可能已經幫助某人進行了類似的測量。
偏光片特性
準確測量偏光片的偏光軸角和偏光效率（衰減幅度）。確定輸出狀態是線性、圓形還是介于兩者之間的某種橢圓狀態。還要判斷輸入輸出狀態是否相同。在一些應用中，延遲膜被層壓到偏振膜上以進行視場補償或用于制造圓偏振器。我們的多層分析軟件可用于確定各個層的屬性。
緩凝劑性能
準確測量減速器快軸角度和減速幅度。還要確定傳播*快的狀態是線性、圓形（旋光）還是橢圓形。測量延遲作為傾斜角的函數可以計算面外延遲 (Rth) 和指示線傾斜角 (β)，并表征 c 板。
液晶參數測試
同時測量液晶任意模式的盒隙、上下配向方向、扭轉角、上下預傾角。測量可應用于測試電池、商業面板或聚合薄膜。
廣義橢圓偏光
測量反射樣品可為計算薄膜的折射率和厚度提供必要的數據（ψ 和 Δ）。因為 AxoScan 測量整個 Mueller 矩陣，所以測量不限于各向同性薄膜。可以毫無困難地測量單軸和雙軸各向異性薄膜和基材。
應力誘導雙折射
AxoScan 可以準確測量低于 0.1 nm 的延遲水平。測量樣品的延遲和快軸方向的 XY 圖揭示了應力誘導的雙折射模式。AxoScan 廣泛用于測試注塑塑料光學器件和厚玻璃光學器件以揭示這種現象。
生物樣本
對齊的膠原纖維會產生顯著水平的線性延遲。AxoScan 用于選擇用于制造心臟瓣膜的組織，以確保纖維對齊與瓣膜幾何形狀正確對齊。
反射裝置
VRTF 夾具允許在透射或反射中測試樣品。AxoScan 廣泛用于測試反射器件，例如 LCOS 成像器、半透半反 LCD 面板、膽甾型濾光片和光回收膜。
偏振光線追蹤
Mueller 矩陣的一大優勢是它能夠用于偏振光線追蹤模擬。使用復雜樣本的測量 Mueller 矩陣，可以預測該樣本將如何改變任何輸入偏振態。例如，我們的軟件可以預測樣品放置在任意兩個線性、橢圓或圓偏振器之間時的樣子。我們的測量數據文件可以導入到多個第三方鏡頭設計、偏振光線追蹤和液晶設計軟件包中。

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