產品名稱：OTSUKA大塚電子zeta電位粒徑分子量分析

• 新的 APD 具有更高的靈敏度和更短的測量時間。
• 通過自動溫度梯度功能實現熔點和相變點分析。
• 0~90℃寬溫度范圍。
• 寬范圍分子量分析。
• 支持濃縮樣品測量。
• 得益于電滲透測量和繪圖分析，高精度 zeta 電位分析。
• 支持鹽濃縮樣品的zeta電位測量。
• 較小面積樣品的表面 zeta 電位。

●測量范圍

*1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、牛磺膽酸： ～ 40%）

*適用于表面化學、無機、半導體、聚合物、生物技術、制藥和醫療等領域的粒子表征基礎和應用研究，以及薄膜和平面狀態樣品的表面研究。

• 新功能材料
  燃料電池（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
  生物納米技術（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS）、納米氣泡
   
• 陶瓷與涂料
  陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、二氧化鈦^）無機
  溶膠的表面改性劑、分散與凝聚
  炭黑與有機顏料的分散與凝聚 漿
  態樣品
  濾色片
  浮選吸附研究


• Semiconductor
  Alien objects research on silicon wafer
  磨料/添加劑對硅片表面
  CMP漿料的相互作用研究
   
• 聚合物與化工
  乳液分散與凝聚
  乳膠表面改性劑 聚電解質
  功能研究
  造紙過程控制與紙漿助劑研究
   
• 制藥和食品
  乳液分散和凝聚
  脂質體和囊泡的分散/凝聚控制 表面活性
  劑（膠束）的功能

規格